研究環境
実験装置
試験機
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マイクロインデンテーションテスター（μIT-4） |
マイクロインデンテーションテスター（μIT-3） |
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マイクロインデンテーションテスター（μIT-2） |
マイクロインデンテーションテスター（μIT-1） |
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高温用引張試験機 |
引張クリープ試験機 |
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引張試験機 |
微小硬度計 |
試料準備
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アニール炉 |
アニール炉 |
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マッフル炉 |
冷間二段圧延機 |
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ファインカッター（共通設備） |
精密切断機 |
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シャーリング（共通設備） |
縦フライス（共通設備） |
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旋盤（共通設備） |
放電加工機 |
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バフ研磨機（LaboPol-J） |
電解研磨装置 |
組織観察および分析
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X線回折装置（共通設備） |
SEM/EDX（共通設備） |
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FE-SEM/EDS/EBSD（共通設備） |
光学顕微鏡 |
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光学顕微鏡 |
レーザー顕微鏡（共通設備） |
計算機シミュレーション
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有限要素解析プログラム（アバカス） |